高溫介電測試系統
1200 HTDE-LTC系列
介電溫譜
阻抗溫譜
導納譜
阻抗頻譜
介電頻譜
C-V特性
溫度范圍:RT~1000℃
校準頻率:DC~100MHz
電極結構:滿足ASTM D150標準的三電極要求
電極材質:鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
可測樣品:涂電極樣品+無電極樣品
整機質保兩年
1200 HTLR-LTC系列
高溫低阻測試系統
電阻
最高溫度:1000℃
最高電壓:200V
電極結構:滿足ASTM D257標準的五電極結構
電極材質:鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
安全保護:帶高壓安全互鎖開關
測量樣品:無電極樣品+涂電極樣品
體積電阻率
表面電阻率
整機質保兩年
1200 HTHR-LTC系列
高溫高阻測試系統
最高溫度:1000℃
最高電壓:1000V
電極結構:滿足ASTM D257標準的三電極結構
電極材質:鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
高壓保護:帶高壓安全互鎖開關
測量樣品:無電極樣品+涂電極樣品
整機質保兩年
電阻
絕緣體積電阻率
絕緣表面電阻率
12DES系列
常溫介電測試系統
最高頻率:100MHz
電極結構:滿足ASTM D150標準的三電極結構
測量樣品:無電極樣品+涂電極樣品
適配儀器:Keysight E4990A、WK6500系列、TH28系列等主流LCR表
介電頻譜
阻抗頻譜
導納頻譜
整機質保兩年
適合多種尺寸樣品常溫測試 校準頻率:100MHz(最高)
介電頻譜、阻抗頻譜、導納譜測試
常溫介電測試系統
高溫超電阻測試系統
工作溫度:RT-600℃ 三電極結構設計,帶安全互鎖和保護電極 表面電阻率和體積電阻率的測試
工作溫度:RT-800℃ 四線電阻法設計
DC Sweep,Delta Mode,微分電導和脈沖IV測試
高溫超低阻測試系統
工作溫度:RT-1000℃ 三電極結構設計
表面電阻率、體積電阻率測試
用于科研院校陶瓷、薄膜、半導體材料高低溫阻抗、介電、低阻、高阻特性測試
工作溫度:RT-1000℃ 三電極結構設計
R-T、I-T、I-V曲線測試
高溫低阻測試系統
工作溫度:RT-1000℃ 校準頻率:100MHz(最高)
介電溫譜、阻抗譜、導納譜測試
高溫介電測試系統
高溫高阻測試系統
材料綜合物性測試系統
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