高溫介電測試系統
1200 HTDE-LTC系列
介電溫譜
阻抗溫譜
導納譜
阻抗頻譜
介電頻譜
C-V特性
溫度范圍：RT~1000℃
校準頻率：DC~100MHz
電極結構：滿足ASTM D150標準的三電極要求
電極材質：鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
可測樣品：涂電極樣品+無電極樣品
整機質保兩年
1200 HTLR-LTC系列
高溫低阻測試系統
電阻
最高溫度：1000℃
最高電壓：200V
電極結構：滿足ASTM D257標準的五電極結構
電極材質：鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
安全保護：帶高壓安全互鎖開關
測量樣品：無電極樣品+涂電極樣品
體積電阻率
表面電阻率
整機質保兩年
1200 HTHR-LTC系列
高溫高阻測試系統
最高溫度：1000℃
最高電壓：1000V
電極結構：滿足ASTM D257標準的三電極結構
電極材質：鉑銥合金電極+99.5%氧化鋁陶瓷絕緣
高壓保護：帶高壓安全互鎖開關
測量樣品：無電極樣品+涂電極樣品
整機質保兩年
電阻
絕緣體積電阻率
絕緣表面電阻率
12DES系列
常溫介電測試系統
最高頻率：100MHz
電極結構：滿足ASTM D150標準的三電極結構
測量樣品：無電極樣品+涂電極樣品
適配儀器：Keysight E4990A、WK6500系列、TH28系列等主流LCR表
介電頻譜
阻抗頻譜
導納頻譜
整機質保兩年
什么是高溫介電阻抗譜儀？
答：高溫介電阻抗譜儀又可以稱之為高溫介電測量系統。該系統是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統軟件四個組成部分。
高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數數據。最后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的高溫介電溫譜測量系統。
高溫介電阻抗譜儀可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料的高溫介電特性?？赏瑫r測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測量數據與圖形。測試頻率為DC-30MHz。
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